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芯片GDPW与良率评估
芯片GDPW与良率评估
基本信息
名称(name)
芯片GDPW与良率评估
简介(displayDescription)
芯片产品/工艺工程师的 GDPW(每片晶圆裸片数)与 Poisson 良率评估工具,内置交互式 Wafer Map 与 shot 边界可视化,支持理论 vs Foundry 实绩对比。
分类(categories)
数据分析
效率工具
累计使用人次
0
版本(version)
1.0.0
每日记录
本条目按天记录的使用人次。共 1 天 —— 满 2 天后会显示日增。
日期
累计使用人次
日增
2026-09-23
0
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