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芯片GDPW与良率评估

基本信息

名称(name)芯片GDPW与良率评估
简介(displayDescription)
芯片产品/工艺工程师的 GDPW(每片晶圆裸片数)与 Poisson 良率评估工具,内置交互式 Wafer Map 与 shot 边界可视化,支持理论 vs Foundry 实绩对比。
分类(categories)数据分析效率工具
累计使用人次0
版本(version)1.0.0

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日期累计使用人次日增
2026-09-23 0

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