芯芯片老化(HTOL)测试评估
· 24h新增
基本信息
| 名称（name） | 芯片老化(HTOL)测试评估 |
|---|---|
| 简介（displayDescription） | 芯片产品/可靠性/工艺工程师的 HTOL（高温工作寿命）老化测试评估工具：以模板缺省数据起步，激活能 Ea 与 γ因子 直接填写（旁附 Bulk / FinFET / GAA 参考取值），自动给出老化加速因子与芯片等效寿命；内置「同一颗芯片、不同老化条件」的寿命对比（只变老化时长 / 温度 / 电压）。计算过程为黑盒，不对外展开。 |
| 分类（categories） | 开发工具效率工具数据分析 |
| 累计使用人次 | 0 |
| 上架日期（created_at） | 2026-09-24 |
| 版本（version） | 1.2.4 |
每日记录
本服务按天记录的使用人次。共 1 天 —— 满 2 天后会显示日增。
| 日期 | 累计使用人次 | 日增 |
|---|---|---|
| 2026-09-25 | 0 | — |
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